關(guān)鍵字:IIC-China 世坤科技 IC測(cè)試
同市面上其他IC測(cè)試治具相比,世坤的產(chǎn)品在信號(hào)帶寬、精度和壽命三個(gè)關(guān)鍵方面,展現(xiàn)出優(yōu)良的性能,- 3dB電信號(hào)帶寬:3.6--46GHz ;高精密度中心間距:≥0.3mm ;長(zhǎng)壽命:30萬~50萬次。世坤亦可根據(jù)測(cè)試需求,定制各類封裝的IC測(cè)試、老化座,適用于CSP、BGA、mBGA、DIP、 PGA、PLCC、PQFP、SDIP、SOIC、QFP、ZIP、MLF、QFN等各類IC的測(cè)試。
深圳市世坤科技實(shí)業(yè)有限公司專業(yè)研發(fā)、制作IC 自動(dòng)測(cè)試臺(tái)(Handler)、 手動(dòng)測(cè)試座(Manual Test Socket)、自動(dòng)測(cè)試座(Auto Test Socket)、以及老化座(Burn in Socket)、開爾文四線測(cè)試座(Kelvin Test Socket)。世坤公司擁有設(shè)備完善的制作中心,為客戶制作各種IC Socket,單、雙面測(cè)試針床(PCB、ICT等針床),測(cè)試間距達(dá)0.33mm的高密度針床。高密度LCD測(cè)試架,測(cè)試間距達(dá)0.15mm,并提供電路板焊接工裝、裝配工裝等。 在高頻信號(hào)測(cè)試領(lǐng)域(800MHz~12GHz),世坤提供性能優(yōu)越、工藝一流的氣動(dòng)/手動(dòng)屏蔽箱(屏蔽效能耐≥65dB)、天線耦合測(cè)試治具(800MHz~2.5GHz)、RF功能測(cè)試治具。
除世坤外,IIC China 2013 現(xiàn)場(chǎng)將匯集眾多優(yōu)質(zhì)技術(shù)廠商,于明年2月28日,3月1-2日在深圳會(huì)展中心舉行,歡迎廣大工程師朋友們蒞臨參觀、學(xué)習(xí)和交流。
參展商類別:儀器儀表、電路板測(cè)試、觸摸屏測(cè)試、薄膜按鍵